| Науково-дослідна лабораторія

Науково-дослідна лабораторія

НАУКОВО-ДОСЛІДНА ЛАБОРАТОРІЯ

 

«ОПТОЕЛЕКТРОНІКИ ТА ГЕЛІОЕНЕРГТИКИ»

 

 

 

Оптичні та електричні дослідження
 

 

Загальний вигляд лабораторії
 

 

Спектрофлуометр PerkinElmer FL 6500
 

 

Система вимірювання Холла Linseis HCS 1
Спектрофотометр Specord 210 Plus
 

 

ПЕРЕЛІК ОБЛАДНАННЯ

 

 

1.  Система вимірювання Холла Linseis HCS 1:

 

 

  • Високотемпературний аналіз ефекту Хола від КТ до 400°C та коефіцієнту Зеєбека – від КТ до 200°;

 

  • Можливість проведення вимірювань у атмосфері інертного газу.

 

 

2. Спектрофотометр Specord 210 Plus:

 

 

  • Приставка для вимірювання відбиття твердих зразків зі змінним кутом від 11° до 60°;

 

  • Приставка для вимірювання абсолютного відбивання;

 

  • Інтегруюча сфера.

 

 

3. Спектрофлуометр PerkinElmer FL 6500:

 

 

4. Автоматизована система вимірювання ВАХ сонячних елементів Ossila S211;

 

 

5. 4-точкова система вимірювання опору матеріалів Ossila T2001A3;

 

 

6. Гоніометр OssilaL2004A1.

 

 

 

ПЕРЕЛІК ПОСЛУГ

 

 

– вимірювання температурно-залежних електричних транспортних властивостей від кімнатної температури до +400°C у камері з певною газовою атмосферою (аргон, азот):

 

 

  • питомий опір, провідність, опір пластини, константа Холла, концентрація носіїв заряду, рухливість Холла);

 

  • вимірювання Коефіцієнта Зеєбека (до +200°C);

 

 

– вимірювання спектрів поглинання, відбиття та флуоресценції різних зразків у видимому та УФ діапазонах (185-1200 нм):

 

 

  • Можливість вимірювання при різних кутах;

 

  • Вимірювання абсолютного відбиття без впливу інших матеріалів;

 

  • Вимірювання поглинання та дифузного відбиття зразків;

 

  • Оцінка світлових характеристик зразків;

 

  • Вивчення флуоресценції зразків та визначення сумарної оптичної потужності.

 

 

– вимірювання флуоресценції зразків:

 

 

  • Визначати інтенсивність флуоресценції зразків;

 

  • Визначення концентрацій флуоресцентних; речовин у зразках

 

  • Вимірювання ексцитаційних спектрів.

 

 

– вимірювання вольт-амперних (I-V) характеристик та основних праметрів сонячних елементів;

 

 

– визначення кута поверхневого натягу розчинів і наночорнил.